 Ленинградский государственный университет им. А.С. Бубнова
 Проф. С.Э. Фриш
 Техника спектроскопии (курс лекций)
 Допущено Народным Комиссариатом Просвещения в качестве учебного пособия для университетов
 Ленинград, 1936

 Предисловие
 Настоящая книга представляет собою несколько расширенное содержание первой половины лекций, читанных мною для студентов-оптиков IV курса ЛГУ в 1934/35 учебном году. Вторая часть лекций посвящена изложению основных сведений по атомным и молекулярным спектрам и по ней имеется ряд появившихся за последнее время руководств. По первой же части - технике спектроскопии - до сих пор на русском языке не имелось подходящего руководства. Весьма неполные сведения об отдельных спектральных приборах и некоторых приемах изучения спектров разбросаны по отдельным книгам и журналам. Поэтому мне казалось целесообразным издать изложение основ техники спектроскопии в виде одной небольшой книги. Эта книга не отличается, конечно, той полнотой, которая характерна для немецких Handbuch'ов или для известного английского курса спектроскопии Baly, но я старался включить в нее все существенное и надеюсь, что она окажется полезной не только для студентов ЛГУ, но и для всех лиц, которые приступают к работе со спектральными приборами.

 С. Фриш
 Декабрь 1935.

 ОГЛАВЛЕНИЕ:
 Часть I. СПЕКТРАЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ.
 Глава I. Призменный спектрограф.
 §1. Устройство простейшего призменного спектрографа (7).
 §2. Угол наименьшего отклонения призмы (8).
 §3. Дисперсия призмы (10).
 §4. Линейная дисперсия спектрографа (14).
 §5. Разрешающая сила призмы (15).
 §6. Яркость спектра, даваемого спектрографом (19).
 §7. Условия освещения щели спектрографа с помощью проектирующей линзы (22).
 §8. Потери света в спектрографе из-за отражений и поглощения (24).
 §9. Различные типы призм. Материал для призм (26).
 §10. Типы призменных спектрографов (32).
 Глава II. Диффракционная решетка
 §11. Общая теория приборов высокой разрешающей силы (37).
 §12. Диффракционная решетка (39).
 §13. Дисперсия и разрешающая сила решетки (44).
 §14. Случай косого падения света на решетку (46).
 §15. Отражательные решетки (47).
 §16. Способы установки решеток (49).
 §17. Вогнутая решетка (52).
 §18. Астигматизм вогнутой решетки (54).
 §19. Типы установок вогнутой диффракционной решетки (55).
 §20. Методы работы с решеткой. Недостатки решеток (59).
 §21. Употребление решеток для работы в крайних ультрафиолетовой и инфракрасной частях спектра (63).
 Глава III. Приборы высокой разрешающей силы.
 §22. Введение (66).
 §23. Интерферометр Майкельсона (66).
 §24. Теория эшелона Майкельсона (71).
 §25. Распределение интенсивности по порядкам (75).
 §26. Типы установок эшелона (78).
 §27. Пластинка Люмера (82).
 §28. Способы установки пластинки Люмера (87).
 §29. Эталон Фабри и Перо (90).
 §30. Разрешающая сила эталона (93).
 §31. Методы работы с эталонами и интерферометрами Фабри и Перо (97).
 §32. Употребление скрещенных и сложных приборов (101).
 §33. Практическая разрешающая сила приборов (104).
 Часть II. МЕТОДЫ РЕГИСТРАЦИИ И ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРОВ.
 Глава I. Регистрация спектров.
 §34. Фотографирование спектров. Свойства фотопластинки (110).
 §35. Проявление в сенсибилизирование пластинок. Шумановские пластинки (114).
 §36. Термические способы регистрации спектров (118).
 §37. Электрические методы регистрации спектров (122).
 Глава II. Измерение длин волн.
 §38. Введение (124).
 §39. Сравнение длины волны красной кадмиевой линии с длиной нормального метра (126).
 §40. Измерения Фабри, Перо и Бенуа; метод совпадения колец (129).
 §41. Сравнение длин волн нормалей второго порядка с длиной волны красной кадмиевой линии (136).
 §42. Нормали для крайней ультрафиолетовой и инфракрасной частей спектра (143).
 §43. Измерение длин волн путем интерполирования (146).
 Глава III. Определение иитенсивностей и контуров спектральных линий
 §44. Общие методы определения интенсивностей (153).
 §45. Тепловые и фотоэлектрические методы измерения интенсивностей (154).
 §46. Фотографическая фотометрия. Микрофотометры (157).
 §47. Сравнение интенсивностей линий с помощью клина и вращающегося диска (162).
 §48. Методы нанесения марок интенсивностей (164).
 §49. Определение отношения интенсивностей по кривым почернения (168).
 §50. Определение интенсивностей линий, лежащих в различных спектральных областях (170).
 §51. Абсолютные измерения (172).
 §52. Контуры спектральных линий (174).
 Глава IV. Источники света.
 §53. Введение. Термические источники света (180).
 §54. Вольтовы дуги и искры (182).
 §55. Газосветные лампы (185).
 -------------------------------------------------------------------------------
 Скан, обработка, формат Djv: pohorsky, 2010