ИЗ ИЗДАНИЯ: Приведена классификация приборов некогерентной оптоэлектроники и определена оптимальная система параметров. Рассмотрены методы измерения параметров и основы проектирования информационно-измерительных комплексов, управляемых ЭВМ. Обсуждено метрологическое обеспечение разработок и производства приборов некогерентной оптоэлектроники. Разработаны научно-методические основы метрологического обеспечения предприятия.
Для специалистов, работающих в различных областях радиоэлектроники, а также для студентов и аспирантов соответствующих специальностей.

ИЗ ИЗДАНИЯ: Обобщен опыт разработки методов и средств измерения и контроля параметров цифровых интегральных микросхем (ИС). Рассматриваются различные классы цифровых ИС и их характеристики. Излагаются методы измерения статических и динамических параметров, функционального контроля цифровых ИС, принципы построения средств измерения и контроля.
Для инженерно-технических работников - разработчиков цифровых ИС и аппаратуры на их основе, а также для специалистов по метрологическому обеспечению выходного и входного контроля ИС.

ИЗ ИЗДАНИЯ: Описаны методы и средства измерений энергетических параметров и характеристик лазерного излучения. Рассмотрены основные физические принципы лазерной метрологии и методы построения первичных измерительных преобразователей. Описаны нашедшие широкое применение измерительные приборы и системы, а также основы их метрологического обеспечения.
Рассчитана на широкий круг специалистов, занимающихся разработкой и эксплуатацией лазеров, а также интересующихся измерениями параметров и характеристик их выходного излучения.

ИЗ ИЗДАНИЯ: Систематизированы и обобщены основные вопросы измерений, их методы и техника на миллиметровых и субмиллиметровых волнах. Рассмотрены измерительная аппаратура и устройства: измерительные генераторы и приемники; линии передач и элементы измерительных трактов, измерители длин волн, частотных и спектральных характеристик сигналов, распределения полей в квазиоптических системах, добротности, мощности, параметров материалов.
Для инженерно-технических работников, занимающихся разработкой и применением аппаратуры в миллиметровом и субмиллиметровом диапазонах длин волн, а также может быть полезна аспирантам и студентам вузов.

ИЗ ИЗДАНИЯ: Рассмотрены основные параметры и характеристики, методы и средства измерения, испытания и контроля параметров СВЧ приборов. Основное внимание уделено вопросам измерения частоты, фазы, спектра, мощности, добротности, 8-параметров (временной и частотный методы), структуры электромагнитных полей, флуктуации, шумов. Проведен анализ погрешности измерения.
Для инженерно-технических работников, занимающихся проектированием, исследованием, изготовлением и применением приборов СВЧ.