«И» «ИЛИ»  
© Публичная Библиотека
 -  - 
Универсальная библиотека, портал создателей электронных книг. Только для некоммерческого использования!
Липсон Генри Соломон (физик)

Генри Соломон Липсон 170k

(Henry Solomon Lipson)

(11.03.1910 - 26.04.1991)

  ◄  СМЕНИТЬ  ►  |▼ О СТРАНИЦЕ ▼
▼ ОЦИФРОВЩИКИ ▼|  ◄  СМЕНИТЬ  ►  
Википедия: Генри (Соломон) Липсон (англ. Henry (Solomon) Lipson, 1910-1991) - британский физик и кристаллографик.
Родился в еврейской семье иммигрантов из Царства Польского. Его отец был сталеваром на заводе Шоттона (англ. Shotton Steel) во Флинтшире. Его мать очень настаивала на важности образования и позаботилась о том, чтобы он посещал среднюю школу Хавардена (англ.) рус., где он выиграл стипендию для изучения физики в Ливерпульском университете. Окончил университет с отличием в 1930 и остался в Ливерпуле, чтобы заниматься исследованиями кристаллических структур с использованием дифракции рентгеновских лучей. В дальнейшем это стало его основным исследовательским интересом, и в этом исследовании он объединился с А.С. Биверсом (англ.) рус. и обратился за советом к профессору У.Л. Брэггу (который основал крупный кристаллографический центр в Манчестере). Находясь в Ливерпуле и не имея значительного финансирования, Биверс и Липсон изготовили большую часть своего собственного оборудования и изобрели средство для вычислений, полоски Биверса-Липсона, которые широко использовались во времена, когда еще не было компьютеров, и которые сделали их имена широко известными в этой области.
В 1936 У.Л. Брэгг пригласил переехать в Манчестер, а позже и в Теддингтон, а затем, когда стал профессором Кавендиша в 1937, и в Кембридж. В Теддингтоне в 1937 женился на Дженни Розенталь (англ. Jenny Rosenthal, 23 января 1910-2009). Возглавил группу кристаллографии в Кембридже и взял на себя ключевую роль в воспитании молодых ученых. Во время пребывания в Кавендише благодаря контакту с П.П. Эвальдом убедился в важности преобразования Фурье в рентгеновской кристаллографии. В 1945 перешел в Манчестерский технологический колледж (позже Институт науки и технологий Манчестерского университета) в качестве руководителя физического факультета. Под его руководством факультет быстро стал мировым центром кристаллографических исследований, новаторских оптических подходов к дифракции рентгеновских лучей, основанных на преобразовании Фурье. В 1954 стал профессором, а в 1957 и членом Королевского общества. Являлся профессором физики Манчестерского института науки и технологий с 1954 до 1977, эмеритом. Официально вышел на пенсию в 1977, но продолжал работать.
Твердо верил в социальную ответственность ученых, был активным членом организации «Ученые против ядерного оружия» и дважды был президентом Манчестерского литературно-философского общества. У него было трое детей: Энн (1938 г.р.), Стивен (1941 г.р.) и Джудит (1943 г.р.). Смерть младшей дочери от лейкемии в 1990 его морально опустошила. В 1991 Липсоны были с семейным визитом в Хайфе, где их сын был профессором физики в Технионе. Там случился сердечный приступ, и он умер 26 апреля того же года.
:
AAW, bolega, derevyaha, fire_varan, звездочет...




  • Липсон Г.С. Великие эксперименты в физике. (The great experiments in physics, 1968) [Djv- 2.8M] Автор: Генри Соломон Липсон (Henry Solomon Lipson). Перевод с английского И.Б. Виханского и В.А. Кузьмина. Художник В. Стуликов.
    (Москва: Издательство «Мир»: Редакция литературы по физике, 1972)
    Скан: AAW, OCR, обработка, формат Djv: bolega, 2010
    • ОГЛАВЛЕНИЕ:
      Предисловие редактора перевода (5).
      Предисловие автора (7).
      1. Движение (9).
      2. Атмосфера (25).
      3. Теплота (32).
      4. Газы (45).
      5. Звук (59).
      6. Свет (67).
      7. Оптические инструменты (89).
      8. Магнетизм и электричество (109).
      9. Излучение (135).
      10. Строение вещества (155).
      11. Строение атомов (179).
      12. Ограниченность представлений классической физики (193).
      13. Будущее физики (212).
ИЗ ИЗДАНИЯ: В книге известного английского физика Г. Липсона рассказывается о тех экспериментах, которые сыграли выдающуюся роль в становлении физики как науки. Начав с описания первых опытов Галилея и Ньютона, автор завершает изложение опытами Резерфорда, Милликена, Майкельсона - Морли, на которых базируются современная ядерная физика и теория относительности. Книга написана живо, эмоционально, занимательно, насыщена фактами и снабжена многочисленными иллюстрациями, в том числе заимствованными из оригинальных работ Ньютона, Гука, Фарадея и других исследователей.
Книга представляет интерес для студентов и школьников, желающих расширить свой кругозор в области физики. Она полезна также преподавателям, которые найдут здесь обширный материал для обогащения лекций фактическими сведениями.
  • Липсон Г... Интерпретация порошковых рентгенограмм. (Interpretation of X-ray powder diffraction patterns, 1970) [Pdf-Fax- 7.1M] Автор: Генри Соломон Липсон, Г. Стипл (Henry Solomon Lipson, H. Steeple). Перевод с английского Е.Н. Беловой, Г.П. Литвинской под редакцией Н.В. Белова. Художник: В.А. Медников.
    (Москва: Издательство «Мир»: Редакция литературы по физике, 1972)
    Скан, обработка, формат Pdf-Fax: derevyaha, fire_varan, доработка: звездочет, 2023
    • ОГЛАВЛЕНИЕ:
      Предисловие редактора перевода (5).
      Предисловие авторов (9).
      Глава 1. Кристаллические решетки и симметрия кристаллов (11).
      §1. Природа кристаллов (11).
      1. Кристаллическое состояние (11).
      2. Закон рациональных индексов (13).
      3. Симметрия (15).
      4. Зоны и оси зон (15).
      5. Стереографические проекции (17).
      §2. Симметрия кристаллов (20).
      1. Типы симметрии (20).
      2. Комбинации элементов симметрии (21).
      3. Кристаллические системы (22).
      4. Кристаллические решетки (23).
      5. Кристаллические классы (28).
      §3. Симметрия кристаллических структур (33).
      1. Плоскости скольжения и винтовые оси (33).
      2. Пространственные группы (36).
      3. Классы Лауэ (39).
      Глава 2. Геометрия рентгеновских отражений (41).
      §1. Дифракция на кристаллах (41).
      1. Дифракция от трехмерной решетки (41).
      2. Закон Брэгга (44).
      3. Порядки отражений (52).
      §2. Обратная решетка (52).
      1. Сущность обратной решетки (52).
      2. Разновидности обратной решетки (57).
      3. Использование обратной решетки при изучении явления дифракции (61).
      Глава 3. Рентгеновские лучи (63).
      §1. Природа, рентгеновского излучения (63).
      1. Введение (63).
      2. Белое излучение (63).
      3. Характеристическое излучение (65).
      §2. Преломление рентгеновских лучей (69).
      §3. Длины волн рентгеновских лучей (71).
      1. Единицы измерения (71).
      2. Точность измерения (75).
      §4. Поглощение рентгеновских лучей (75).
      1. Коэффициенты поглощения (75).
      2. Края поглощения и флуоресцентное излучение (77).
      3. Когерентное и некогерентное рассеяния (79).
      4. Выбор излучения. Приемы ослабления фона (79).
      §5. Отраженное кристаллом излучение (81).
      1. Введение (81).
      2. Изогнутые кристаллические монохроматоры (85).
      §6. Получение рентгеновских лучей (88).
      1. Типы рентгеновских трубок (88).
      2. Газовые трубки (88).
      3. Трубки с горячим катодом (88).
      4. Трубки с вращающимся анодом (91).
      5. Острофокусные трубки (91).
      6. Электролитическое платинирование анодов (92).
      7. Меры защиты (93).
      Глава 4. Регистрация порошковых рентгенограмм и их измерение (94).
      §1. Введение (94).
      §2. Приготовление образцов (99).
      §3. Измерение брэгговских углов (100).
      1. Геометрические характеристики камер (100).
      2. Измерение порошковых рентгенограмм (104).
      3. Поправка на поглощение (105).
      §4. Цилиндрические порошковые камеры (107).
      1. Диаметр камеры (107).
      §5. Рентгеновский дифрактометр для порошковых препаратов (109).
      1. Регистрация дифрагированного излучения (109).
      2. Геометрическая характеристика дифрактометра 109.
      3. Практические указания (111).
      §6. Высокотемпературные и низкотемпературные камеры (113).
      1. Высокотемпературные камеры (113).
      2. Низкотемпературные камеры (114).
      §7. Камеры высокого давления (119).
      §8. Камеры других типов (119).
      1. Фокусирующие камеры (119).
      2. Камеры для массивных образцов (124).
      3. Микролучевые камеры (126).
      4. Факторы, определяющие выбор камеры (126).
      §9. Дифракция нейтронов (128).
      Глава 5. Интерпретация порошковых рентгенограмм (130).
      §1. Введение (130).
      §2. Расчет рентгенограмм в случае известной ячейки (131).
      1. Кубическая система (131).
      2. Тетрагональная, гексагональная и тригональная системы (132).
      3. Ромбическая система (134).
      4. Моноклинная и триклинная системы (135).
      §3. Расчет рентгенограмм в случае неизвестной ячейки (138).
      1. Кубическая система (138).
      2. Тетрагональная система (141).
      3. Гексагональная и тригональная системы (144).
      4. Ромбическая система (145).
      5. Моноклинная система (150).
      6. Триклинная система (152).
      7. Преобразование осей методом Ито (156).
      8. Обобщение метода Ито для триклинной системы (158).
      9. Индицирование рентгенограмм триклинных кристаллов методом Сольдоса (161).
      §4. Графические методы интерпретации (164).
      1. Основные принципы графических методов (164).
      2. Метод Бьерстрема (165).
      3. Сетки Хэлла - Дэви (169).
      §5. Другие методы интерпретации (173).
      §6. Сравнение аналитических и графических методов (175).
      §7. Проверка правильности результата (177).
      Глава 6. Точное определение размеров элементарной ячейки (179).
      §1. Введение (179).
      §2. Исключение систематических ошибок в порошковых рентгенограммах (180).
      1. Несовпадение оси камеры и оси вращения образца (180).
      2. Поглощение и расходимость пучка рентгеновских лучей (181).
      3. Конечная высота образца (182).
      4. Усадка пленки (182).
      5. Преломление (184).
      6. Пределы точности (184).
      §3. Приемы работы с порошковыми рентгенограммами кубических и одноосных образцов (186).
      1. Основные положения метода для кубических образцов (186).
      2. Приемы расчета (187).
      3. Выбор излучения (187).
      4. Практический пример (188).
      5. Метод для одноосных образцов (190).
      §4. Аналитический метод Когена (191).
      1. Введение (191).
      2. Приемы устранения систематических ошибок (192).
      3. Случайные ошибки. Их учет (193).
      4. Практический пример (194).
      §5. Статистический метод (196).
      §6. Применение цилиндрической фокусирующей камеры (196).
      1. Введение (196).
      2. Устранение ошибок (198).
      §7. Камера обратной съемки с плоской кассетой (200).
      §8. Приемы работы на дифрактометре со счетчиком (201).
      1. Измерение брэгговского угла (201).
      2. Источники ошибок (202).
      3. Ошибки в положении максимума пика (203).
      4. Ошибки, связанные с положением центра тяжести дифракционного профиля (204).
      §9. Приложения (206).
      1. Определение коэффициентов теплового расширения (206).
      2. Определение фазовых границ на диаграммах равновесия (206).
      3. Определение плотности и молекулярного веса (207).
      4. Измерение внутренних напряжений (208).
      5. Определение кристаллических структур (209).
      Глава 7. Измерение интенсивностей рентгеновских рефлексов и их вычисление (211).
      §1. Введение (211).
      §2. Измерение интенсивностей фотографическими методами (211).
      1. Действие рентгеновского излучения на фотопленку (211).
      2. Типы фотометров (212).
      3. Основные условия измерения (215).
      4. Приложение к порошковым рентгенограммам (210).
      §3. Измерение интенсивностей при помощи дифрактометров (218).
      1. Регистрация рентгеновских квантов при помощи счетчиков (218).
      2. Счетчик Гейгера и пропорциональный счетчик (218).
      3. Сцинтилляционный счетчик (222).
      4. Интегральная интенсивность (223).
      §4. Вычисление интенсивностей рентгеновских рефлексов (224).
      1. Введение (224).
      2. Формула для относительной интенсивности (225).
      3. Угловой фактор (225).
      4. Фактор поглощения (226).
      5. Экстинкция (227).
      6. Фактор повторяемости (230).
      §5. Структурный фактор (236).
      1. Определение структурного фактора и структурной амплитуды (236).
      2. Атомный фактор (237).
      3. Температурный фактор (240).
      4. Геометрический структурный фактор (240).
      5. Отсутствие рефлексов (погасание), обусловленное типом решетки (243).
      §6. Приложения (246).
      1. Определение - расшифровка структуры (246).
      2. Изучение сверхструктурных образований в сплавах (246).
      3. Определение пропорций составных частей смеси (248).
      Глава 8. Определение (расшифровка) кристаллических структур (249).
      §1. Сравнение монокристального и порошкового методом (249).
      §2. Предварительные процедуры (250).
      1. Нахождение элементарной ячейки и пространственной группы (250).
      2. Масштабный коэффициент и температурный фактор (253).
      3. Нахождение приближенной структуры (257).
      §3. Некоторые примеры определения структуры (259).
      1. Общий критический обзор интенсивностей (259).
      2. Установление пространственной группы (261).
      3. Точное определение интенсивностей (262).
      4. Обнаружение псевдосимметрии (263).
      §4. Уточнение кристаллических структур (265).
      1. Введение (265).
      2. Уточнение параметров методом наименьших квадратов (267).
      3. Уточнение методом наиболее крутого спуска (272).
      4. Уточнение методом минимизации фактора расходимости (273).
      Глава 9. Анализ уширения порошковых линий (275).
      §1. Введение (275).
      §2. Пятнистые порошковые рентгенограммы (275).
      1. Причины возникновения пятнистости (275).
      2. Определение размера зерна по дискретным пятнам (276).
      §3. Уширение (размытие) порошковых линий (277).
      1. Определение ширины порошковых линий (277).
      2. Причины уширения порошковых линий (278).
      §4. Измерение уширения (282).
      1. Введение (282).
      2. Распределение интенсивности по уширенной порошковой линии (282).
      3. Метод Стокса (283).
      4. Измерение ширины линий (288).
      §5. Приложения (294).
      1. Кажущиеся размеры кристалла (294).
      2. Малоугловое рассеяние (294).
      3. Структурные ошибки (295).
      4. Деформированные кристаллы (296).
      Глава 10. Идентификация кристаллических материалов (297).
      §1. Введение (297).
      §2. Общие методы идентификации (298).
      1. Описания порошковых рентгенограмм (298).
      2. Картотека порошковых дифракционных данных (299).
      3. Некоторые практические трудности (304).
      §3. Идентификация в условиях ограниченного числа возможностей (305).
      1. Огнеупорные материалы (305).
      2. Системы сплавов (306).
      3. Минералы (308).
      Задачи (310).
      Решения задач (317).
      Приложение 1 (335).
      Приложение 2 (339).
      Приложение 3 (340).
      Таблицы (342).
      Литература (366).
      Именной указатель (371).
      Предметный указатель (374).
ИЗ ИЗДАНИЯ: Авторы книги Г. Липсон и Г. Стипл - английские ученые, специалисты в области рентгенографии, причем первый из них известен советским читателям по переводу книги, написанной на высоком теоретическом уровне (Липсон Г., Кокрен В., Определение структуры кристаллов, ИЛ, 1956).
Предлагаемая книга представляет собой модернизированное пособие по непрерывно совершенствующимся порошковым методам, которое включает все достижения последних лет, как экспериментальные, так и теоретические.
Она рассчитана на рентгеноструктурщиков, использующих в основном порошковые рентгенограммы, а также на студентов, осваивающих порошковые методы рентгеноструктурного анализа.